El equipo se utiliza para observar muestras en detalle a nivel micro y nanométrico, proporcionando imágenes tridimensionales de la superficie.
El equipo Scanning Electron Microscopy, (SEM) permite observar la superficie de materiales con aumentos de imágenes que va de los x 5 a x200,000 (depende las características de la muestra) y resolución de hasta 3nanómetros.
Permite obtener imágenes topográficas de superficies y cuenta con backscattering. Además, se tiene un analizador elemental por espectroscopia de energía dispersiva de rayos X que indica la composición elemental de la superficie en materiales sólidos
Aplicaciones
Algunas de las aplicaciones incluyen la inspección de materias primas, productos terminados, evaluación de la calidad de superficies (porosidad, corrosión, desgaste, fracturas y en general la topografía), además de la identificación de contaminantes y la composición elemental de muestras sólidas secas.