Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) JEOL-6610LV
ITRANS tiene un microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscopy, SEM) que permite observar la superficie de materiales con aumentos de imágenes que va de los x5 a x200,000 (depende las características de la muestra) y resolución de hasta 3 nanómetros. Se pueden obtener imágenes topográficas de superficies y cuenta con backscattering. Además, se tiene un analizador elemental por espectroscopia de energía dispersiva de rayos X que indica la composición elemental de la superficie en materiales sólidos.
