ITRANS tiene un microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscopy, SEM) que permite observar la superficie de materiales con aumentos de imágenes que va de los x5 a x200,000 (depende las características de la muestra) y resolución de hasta 3 nanómetros. Se pueden obtener imágenes topográficas de superficies y cuenta con backscattering. Además, se tiene un analizador elemental por espectroscopia de energía dispersiva de rayos X que indica la composición elemental de la superficie en materiales sólidos.
Algunas de las aplicaciones incluyen la inspección de materias primas, productos terminados, evaluación de la calidad de superficies (porosidad, corrosión, desgaste, fracturas y en general la topografía), además de la identificación de contaminantes y la composición elemental de muestras sólidas secas.
